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智慧財產及商業法院民事判決
111年度民專上字第4號
上 訴 人 士林電機廠股份有限公司
法定代理人 許育瑞
訴訟代理人 林健群律師
陳豫宛
被上訴人 宇太電器行
法定代理人 楊雅惠
被上訴人 益詮電器有限公司
法定代理人 徐立勳
被上訴人 林石實業有限公司
法定代理人 葉秋蓮
共 同
訴訟代理人 徐念懷律師
彭國洋律師
黃立虹律師
李世章律師
上一人之
複代理人 蔣卓廷
上列當事人間侵害專利權有關財產權爭議等事件,上訴人對於中華民國110年11月2日本院109年度民專訴字第50號第一審判決提起上訴,本院於111年8月18日言詞辯論終結,判決如下:
主 文
一、上訴駁回。
二、第二審訴訟費用由上訴人負擔。
事實及理由
一、程序方面:㈠被上訴人益詮電器有限公司(下稱益詮公司)之法定代理人已變更為徐立勳,有變更登記資料(乙證10。
本判決相關證據的編號如附表1)可稽,徐立勳具狀聲明承受訴訟(本院卷一第112、129至132頁),應予准許。
㈡上訴人撤回原上訴聲明第3項後段關於銷毀之請求,減縮為「被上訴人等不得自行或使他人製造、為販賣之要約、販賣、使用或為上述目的而進口侵害中華民國專利證書新型第M523686號『防水盒結構』專利權之物品。」
經被上訴人同意(本院卷一第385、398頁),即應允許。
二、上訴人主張其為第M523686號「防水盒結構」新型專利(下稱系爭專利)之專利權人,專利期間自105年6月11日至115年2月18日止(甲證1、2)。而型號「AW-C」之防水開關盒(甲證4,下稱系爭產品1)與未載明型號之防水開關盒(甲證8,下稱系爭產品2。二者合稱系爭產品),係由被上訴人林石實業有限公司(下稱林石公司)製造生產,被上訴人宇太電器行、益詮公司負責販賣銷售,經委託鑑定系爭產品落入系爭專利更正後請求項1之文義範圍,侵害系爭專利權。爰請求被上訴人連帶賠償2,244,708元,並不得為一定行為,且將已製造之物品及模具、原料交予上訴人銷毀。原審判決上訴人敗訴,上訴人提起上訴,並依專利法第120條準用第96條第1項前段、第2項、第97條第1項第2款、民法第185條第1項規定請求,聲明:㈠原判決廢棄。㈡被上訴人應連帶給付上訴人2,244,708元及自109年9月9日起至清償日止,按年息5%計算之利息。㈢被上訴人不得自行或使他人製造、為販賣之要約、販賣、使用或為上述目的而進口侵害系爭專利之物品。㈣如獲勝訴判決,上訴聲明第2項願供擔保請准宣告假執行。
三、被上訴人則辯以:乙證1、3之組合、乙證1、4之組合、乙證1、5之組合、乙證1、6之組合、乙證1、7之組合、及乙證1、8之組合均可證明更正後系爭專利請求項1不具進步性;系爭產品1係未公開之測試樣品,上訴人顯有極高之或然率係違法竊取,欠缺證據能力;系爭產品之特徵未為系爭專利更正後請求項1之文義所讀取,並未落入系爭專利更正後請求項1之文義範圍等語,資為抗辯。並聲明:㈠上訴人之上訴駁回。㈡如受不利判決,願供擔保請准宣告免為假執行。
四、得心證之理由:本件兩造所爭執之處,經協議簡化如附表2所示(本院卷一第398至399頁),並同意先就爭點㈠、㈡1.、2.進行調查及辯論(本院卷一第401頁,本院卷二第73至76頁)。
茲分述如下:㈠本院應就系爭專利更正後請求項1之有效性抗辯自為判斷:⒈依智慧財產案件審理法第16條第1、2項規定,當事人主 張或抗辯智慧財產權有應撤銷、廢止之原因者,法院應就 其主張或抗辯有無理由自為判斷,法院認有撤銷、廢止之 原因時,智慧財產權人於該民事訴訟中不得對於他造主張 權利。
⒉被上訴人抗辯系爭專利更正後請求項1不具進步性,本院就此抗辯應自為判斷。
系爭專利於105年2月19日申請,於同年4月26日審定准予專利,於同年6月11日公告,故系爭專利有無撤銷之原因,應依核准審定時有效之103年1月22日修正公布之專利法(下稱核准時專利法)。
⒊依核准時專利法第119條第1項第1款規定,新型專利權有違反第120條準用第22條第2項規定(即新型專利為其所屬技術領域中具有通常知識者依申請前之先前技術所能輕易完成時,仍不得取得新型專利),任何人得向專利專責機關提起舉發。
而系爭專利有無違反上開規定而應撤銷其新型專利權,依法應由主張系爭專利無效之人(即被上訴人)附具證據加以證明。
㈡系爭專利之技術內容(專利說明書見甲證2,相關圖式如附圖1所示):1.系爭專利所欲解決問題:一般習用結構中(甲證2之第5圖),用於斷路器的防水盒90結構,其中一側會有出線孔91,藉以使電源線92通過,在蓋體93與本體94的蓋合面,通常使用一般的膠條95,其膠條95的抵接面是平面,當組裝於防水盒上時,容易造成由外到內蓋合不密合,而使水氣仍容易侵入防水盒內,無法確實達到防潮防溼的目的(甲證2第【0002】段)。
2.系爭專利解決問題之技術手段見甲證2第【0004】段,其對照先前技術之功效,則為:當蓋體蓋合於盒體上時,凸壓部會壓抵於密封件之凸緣部上,使密封件產生形變,凹室則因凸緣部下壓而充塞於容置槽中增加密閉性,同時因原存在於凹室之空氣無法宣洩,會形成一空氣阻隔層,防止濕氣出入,同時,第一阻隔部與第二阻隔部也會貼抵於凸壓部二側緊密結合,而形成由外到內多段式的阻隔,以達到密封的效果(甲證2第【0004】段)。
3.上訴人於109年10月29日提出更正,經經濟部智慧財產局於110年7月29日併同舉發案審定准予更正,並於110年8月21日公告(乙證9、丁證1),系爭專利更正後請求項1為獨立項: 一種防水盒結構,包括:一盒體,其頂面具有一開口,且於開口週緣設有一容置槽;
一密封件,設置於該容置槽,且該密封件上段處具有一延伸部,該延伸部延伸蓋覆於該容置槽邊緣;
其中該密封件更包括有一第一阻隔部與一第二阻隔部,該第一阻隔部與該第二阻隔部分別位於延伸部上;
其中該密封件之第一阻隔部與第二阻隔部之間有一凸緣部,凸緣部相對應下方則為凹室;
一蓋體,蓋合於該盒體之該開口處,且該蓋體之側緣對應於該密封件處,係具有一凸壓部;
其中,當蓋體蓋合於盒體上時,該凸壓部係壓抵於該密封件上,讓該密封件產生形變,使該密封件與該凸壓部緊密結合;
當蓋體蓋合於盒體上時,該第一阻隔部與該第二阻隔部貼抵於該凸壓部二側,使該密封件與該蓋體緊密結合;
蓋體蓋合於盒體上時會使凸壓部壓抵凸緣部向下產生形變,凹室則因凸緣部下壓而充塞於該容置槽中,原存在於凹室之空氣無法宣洩,會形成一空氣阻隔層,防止濕氣出入增加密閉性。
㈢被上訴人所提之引證資料如附表3所示,其公告日或公開日均早於系爭專利之申請日(105年2月19日),可作為系爭專利之先前技術。
相關圖式如附圖2至8所示。
㈣乙證1、7之組合可證明系爭專利更正後請求項1不具進步性:1.系爭專利更正後請求項1與乙證1之比對: ⑴乙證1說明書第1圖及說明書第【0013】段揭露「本創作包括一可對接組合之硬質第一殼體1、第二殼體2、一軟質墊圈3,……,又該第一殼體1之第一周緣12主要為平面,並第一周緣12表面又環設凸垣13,並該凸垣13具頂緣131及二外、內側緣132、133;
又該第二殼體2之第二周緣22主要為平面,並該第二周緣22於對應前述凸垣13位置又設置嵌槽23,並該嵌槽23寬度及深度分別大於前述凸垣13之二外、內側緣132、133寬度及頂緣131高度。
」乙證1硬質第一殼體1及第二殼體2、嵌槽23相當於系爭專利更正後請求項1盒體、容置槽,故乙證1已揭露系爭專利更正後請求項1「一盒體,其頂面具有一開口,且於開口週緣設有一容置槽」之技術特徵。
⑵乙證1說明書第【0014】段揭露「墊圈3設置於第二周緣22上,並該墊圈3下方設置可嵌入前述嵌槽23之嵌接部31,並該嵌接部31體積略小於嵌槽23體積,又該墊圈3於對應嵌接部31上方二側分別設置向外、內延伸之外、內延伸部32、33,並該外、內延伸部32、33下方可與第二周緣22表面接合。」
乙證1墊圈3、嵌槽23、外、內延伸部32、33相當於系爭專利更正後請求項1之密封件、容置槽、延伸部,故乙證1已揭露系爭專利更正後請求項1「一密封件,設置於該容置槽,且該密封件上段處具有一延伸部,該延伸部延伸蓋覆於該容置槽邊緣」之技術特徵。
⑶乙證1說明書第【0015】段揭露「本創作令墊圈3組設於第二殼體2之第二周緣22上,並使嵌接部31與嵌槽23接合定位,又如第五、六圖所示令第一殼體1對應第二殼體2蓋合時該凸垣13之頂緣131可壓迫墊圈3之接合槽36底面,並第一周緣12之平面表面又可壓迫墊圈3之二外、內凸部34、35迫使二外、內凸部34、35內側分別向凸垣13之外、內側緣132、133呈夾合迫緊。」
乙證1二外、內凸部34、35、凸垣13,相當於系爭專利更正後請求項1之第一阻隔部、第二阻隔部、凸壓部,故乙證1已揭露系爭專利更正後請求項1「該密封件更包括有一第一阻隔部與一第二阻隔部,一蓋體,蓋合於該盒體之該開口處,且該蓋體之側緣對應於該密封件處,係具有一凸壓部,其中,當蓋體蓋合於盒體上時,該凸壓部係壓抵於該密封件上,讓該密封件產生形變,使該密封件與該凸壓部緊密結合,該第一阻隔部與該第二阻隔部分別位於延伸部上,當蓋體蓋合於盒體上時,該第一阻隔部與該第二阻隔部貼抵於該凸壓部二側,使該密封件與該蓋體緊密結合」之技術特徵。
⑷惟乙證1並未揭露系爭專利更正後請求項1「其中該密封件之第一阻隔部與第二阻隔部之間有一凸緣部,凸緣部相對應下方則為凹室」、「蓋體蓋合於盒體上時會使凸壓部壓抵凸緣部向下產生形變,凹室則因凸緣部下壓而充塞於該容置槽中,原存在於凹室之空氣無法宣洩,會形成一空氣阻隔層,防止濕氣出入增加密閉性」之技術特徵。
2.系爭專利更正後請求項1與乙證7之比對:乙證7為一種密封構件及密封環,乙證7圖式第3至5圖及說明書第【0032】段揭露一密封環10之抵接部14間有一第一唇部16,第一唇部16相對應下方為第二溝槽19,第一構件20蓋合於第二槽件23上時會使第一唇部16向下產生形變,第二溝槽19則因第一唇部16下壓而充塞於嵌合溝24中,原存在於第二溝槽19之空氣被封閉其中,形成一空氣阻隔層,可防止濕氣出入增加密閉性。
乙證7第一唇部16、第二溝槽19、嵌合溝24相當於請求項1凸緣部、凹室、容置槽,故乙證7已揭露系爭專利更正後請求項1「其中該密封件有一凸緣部,凸緣部相對應下方則為凹室」、「蓋體蓋合於盒體上時會使凸緣部向下產生形變,凹室則因凸緣部下壓而充塞於該容置槽中,原存在於凹室之空氣無法宣洩,會形成一空氣阻隔層,防止濕氣出入增加密閉性」之技術特徵。
3.乙證1與乙證7之組合動機:如前第四㈣1.、2.項所述,乙證1、7已揭露系爭專利更正後請求項1之整體技術特徵。
而關於乙證1 及乙證7 之組合動機,業經本院曉諭命兩造充分辯論(本院卷一第399至401頁、本院卷二第73至74頁),茲分述如下:⑴乙證1、7均為防水密封環之技術領域,兩者於技術領域具有關連性;
⑵乙證1第6圖揭露之外、內延伸部32、33,與乙證7第5圖揭露之位置托持部12,均具有在受夾持時向外膨脹變形之功能,兩者於功能及作用具有共通性;
⑶乙證1說明書第【0004】段揭露創作的目的在於提供一種可提升工具箱防水密合穩定性結構,乙證7說明書第【0003】段揭露發明目的在於穩定密封性能,兩者在所欲解決問題上具有共通性。
⑷因此,該創作所屬技術領域中具有通常知識者具有合理動機組合乙證1、7而得到系爭專利更正後請求項1之創作,故乙證1、7之組合可證明系爭專利更正後請求項1不具進步性。
4.上訴人主張依乙證1第【0014】、【0015】段揭示,可知乙證1確實為必須要有凹對凸的技術手段,才能解決其技術問題云云(本院卷二第23至25頁之民事上訴理由(三)狀第4至5頁)。
⑴關於乙證1所欲解決之技術問題,觀諸乙證1說明書第1頁【先前技術】第【0003】段之記載「為改進前述情形,目前係具有於工具箱相對之殼體位置設置軟質墊圈設計,使得該二殼體蓋合時硬質殼體可壓迫墊圈以具防水密合效果,然而前述二殼體蓋合時常造成墊圈受力移位造成防水效果不佳缺失,且該墊圈僅藉由二殼體平面壓迫仍易產生滲水間隙缺失」,可知乙證1在先前技術中【0003】段所載之缺陷問題乃「該墊圈僅藉由二殼體平面壓迫仍易產生滲水間隙缺失」,並非如上訴人所述「形成凸、凸狀的配合方式」,故上訴人就乙證1所載之缺陷問題,顯有誤解。
⑵乙證1為解決上開先前技術所載之缺陷問題(即該墊圈僅藉由二殼體平面壓迫仍易產生滲水間隙缺失),其所採取之技術手段,揭示於乙證1說明書第【0015】段「本創作令墊圈3組設於第二殼體2之第二周緣22上,並使嵌接部31與嵌槽23接合定位,又如第五、六圖所示令第一殼體1對應第二殼體2蓋合時該凸垣13之頂緣131壓迫墊圈3之接合槽36底面,並第一周緣12之平面表面又可壓迫墊圈3之二外、內凸部34、35迫使二外、內凸部34、35內側分別向凸垣13之外、內側緣132、133呈夾合迫緊,並外側向外延伸,又該凸垣13朝向墊圈3接合槽36之壓力又可令墊圈3下方嵌接部31壓縮與第二周緣22之嵌槽23由穿插方式更迫緊接合,且使凸垣13又可嵌置於嵌槽23位置定位」。
因此,乙證1解決問題之技術手段應為【A】設置嵌槽23使嵌接部31與嵌槽23接合定位,【B】並利用凸垣13朝向墊圈3接合槽36之壓力令墊圈3下方嵌接部31壓縮與第二周緣22之嵌槽23由穿插方式更迫緊接合,且使凸垣13又可嵌置於嵌槽23位置定位。
⑶乙證1為解決先前技術所載缺陷問題而採取技術手段【A】、【B】,已如前述,只要能將乙證1墊圈3置於嵌合槽23並將墊圈3下方嵌接部31由穿插方式更迫緊接合,即能解決乙證1先前技術所載之缺陷問題。
是以乙證1並未提及必須要有「凹對凸」的技術手段始能解決其技術問題,如為「凸對凸」、「平對凸」的技術手段,只要藉由將墊圈3置於嵌合槽23並能下壓置於嵌合槽23墊圈3,即能解決乙證1先前技術所載之缺陷問題。
故上訴人主張乙證1必須要有「凹對凸」的技術手段云云,即不可採。
5.上訴人主張將乙證7之第一唇部16設置於乙證1之接合槽36,已使乙證1原本的凸、凹狀配合原理完全消失,形成凸、凸狀的配合方式;
又依原審判決認為將第二唇部18增加於乙證1之嵌接部31,也將造成乙證1之另一技術特徵「嵌接部31壓縮與第二周緣22之嵌槽23由穿插方式更迫緊接合」完全消失云云(本院卷一第69至71、207頁之民事上訴理由狀第4至5頁、民事爭點整理狀第23頁、本院卷二第25頁之民事上訴理由(三)狀第5頁)。
⑴乙證1為解決「該墊圈僅藉由二殼體平面壓迫仍易產生滲水間隙缺失」之缺陷問題,採取技術手段【A】、【B】,如前所述。
而乙證7第3至5圖揭露密封環10的環狀基部11設置於嵌槽中,與乙證1將嵌接部31與嵌槽23接合定位為相同之技術手段,是以乙證7揭露技術手段【A】(即設置嵌槽23使嵌接部31與嵌槽23接合定位)。
另乙證7第一密封面22壓迫第一唇部16,第一唇部16變形後可令環狀基部11下方第二唇部18壓縮與嵌槽更迫緊接合,與乙證1凸垣13朝向墊圈3接合槽36之壓力又可令墊圈3下方嵌接部31壓縮與第二周緣22之嵌槽23由穿插方式更迫緊接合之技術手段【B】幾乎相同,差異僅在於乙證7之第一密封面22為平面,乙證1之凸垣13為凸部。
雖乙證7平、凸狀配合方式與乙證1凹、凸狀配合方式不同,惟如前第四㈣4.⑶項所述,平、凸狀配合方式同樣能解決乙證1先前技術所載之缺陷問題。
亦即,乙證7揭露平、凸狀配合方式,將乙證7第一唇部16設置於乙證1接合槽36,乙證1凸垣13下壓時即可將組合後乙證7第一唇部16往乙證1嵌槽23裡面推擠,進而使乙證1嵌接部31壓縮與第二周緣22之嵌槽23由穿插方式更迫緊接合。
因此,上訴人主張形成乙證1、7組合後凸、凸狀的配合方式,有違乙證1之核心技術手段云云,並不可採。
⑵如前所述,乙證1、7組合後,將乙證7第二唇部18增加於乙證1之嵌接部31、第一唇部16設置於接合槽36,藉由乙證1凸垣13壓迫組合後乙證7第一唇部16,第一唇部16變形後將可令乙證1嵌接部31下方組合之乙證7第二唇部18壓縮與嵌槽23更迫緊接合,乙證1凸垣13同樣可嵌置於嵌槽23位置定位。
因此,上訴人主張乙證1、7組合後將造成乙證1之另一技術特徵「嵌接部31壓縮與第二周緣22之嵌槽23由穿插方式更迫緊接合」完全消失云云,亦不可採。
6.上訴人主張乙證7在對應乙證1之接合槽36處,設計第一唇部16此種凸出的單元,以及在溝槽內設置兩個第二唇部18;
乙證1解決技術問題(墊圈受力移位造成防水效果不佳)的手段,在於(1)凸垣13朝向凹陷的接合槽36,使凸垣13嵌置於嵌槽23位置定位,(2)嵌接部31壓縮與第二周緣22之嵌槽23由穿插方式更迫緊接合,則技藝人士不可能有動機產生如原審所認為將乙證7之第一唇部16及第二唇部18分別增加於乙證1墊圈3之上半部與下半部,否則,將無法解決乙證1欲解決的技術問題,更無法達成乙證1所欲得到的技術效果云云(本院卷一第69頁之民事上訴理由狀第4頁)。
⑴如前所述,乙證7已揭露乙證1之技術手段【A】,亦即乙證7圖式第3至5圖揭露密封環10的環狀基部11設置於嵌槽中,與乙證1將嵌接部31與嵌槽23接合定位為相同之技術手段。
⑵另乙證7第一密封面22壓迫第一唇部16,第一唇部16變形後可令環狀基部11下方第二唇部18壓縮與嵌槽更迫緊接合,與乙證1凸垣13朝向墊圈3接合槽36之壓力又可令墊圈3下方嵌接部31壓縮與第二周緣22之嵌槽23由穿插方式更迫緊接合之技術手段【B】幾乎相同(差異僅在於乙證7之第一密封面22為平面,乙證1之凸垣13為凸部,但此平、凸狀與凹、凸狀配合方式之差異,並不影響乙證7解決乙證1先前技術所載之缺陷問題,已於前述)。
⑶乙證7密封環10的環狀基部11設置於嵌槽中;
第一密封面22壓迫第一唇部16,第一唇部16變形後可令環狀基部11下方第二唇部18壓縮與嵌槽更迫緊接合之技術特徵,同樣可以解決乙證1所欲解決的技術問題。
而乙證1、7具有合理動機組合,已如前第四㈣3.項所述,故上訴人此部分主張並不可採。
7.上訴人主張從乙證7說明書第【0032】段揭示觀之,其第一唇部16上端受到平面的壓迫時,係朝水平方向潰散而被壓扁,完全未載原審判決所稱之「第一唇部16下壓而充塞於嵌合槽24中」技術效果;
而系爭專利更正後請求項1之凹室23因凸緣部22下壓而充塞於容置槽12中,原存在於凹室23之空氣無法宣洩,會形成空氣阻隔層,防止濕氣出入增加密閉性,此為乙證7所無之技術特徵及功效云云(本院卷一第71至73頁之民事上訴理由狀第5頁第5點第6行)。
⑴乙證7第3、5圖揭露一密封環10之抵接部14間有一第一唇部16,第一唇部16相對應下方為第二溝槽19,乙證7第二溝槽相當於系爭專利更正請求項1之凹室。
⑵乙證7說明書第【0032】後段揭露「又,藉由位置托持部12的彈性復原力及第一唇部16的彈性回復,基底部11在嵌合溝24內朝向第二密封面25側變換位置,並且第二唇部18壓向第二密封面25。
藉此,第二唇部18壓向第二密封面25而出現被擠壓的彈性變形,並且擴大相對於第二密封面25緊密接合面積以及形成液密狀的緊密接合」,因第二溝槽19位於二第二唇部18之間,故乙證7「第二唇部18壓向第二密封面25而出現被擠壓的彈性變形,並且擴大相對於第二密封面25緊密接合面積以及形成液密狀的緊密接合」,即相當於系爭專利更正後請求項1「凹室23因為凸緣部22下壓而充塞於容置槽12中,原存在於凹室23之空氣無法宣洩,會形成空氣阻隔層,防止濕氣出入增加密閉性」。
因此,上訴人主張乙證7說明書完全未載「第一唇部16下壓而充塞於嵌合槽24中」技術效果云云,並不可採。
8.上訴人主張乙證7之兩第二唇部18之間的凹室並未揭示具有增加密閉性的功用,亦未產生大量變形的效果;
乙證7之第一殼體20與密封環10為平對凸配合,當相互壓抵時,密封環10的變形量小,因此耐壓能力不佳;
乙證7之密封環10底部的兩第二唇部18為圓弧狀,因此會有受力不均的問題云云(本院卷一第201頁之民事爭點整理狀第20頁)。
⑴乙證7兩第二唇部18之間的第二溝槽19,因二第二唇部18被擠壓的彈性變形,且擴大相對於第二密封面25緊密接合面積以及形成液密狀的緊密接合,已如前述,故乙證7已揭露兩第二唇部18之間的凹室具有增加密閉性的功用,亦能產生大量變形的效果。
乙證7雖未揭露「凸對凸」配合,惟如第四㈣⒋⑶項所述,不問技術手段究為「凹對凸」、「凸對凸」或「平對凸」配合,只要能將密封件下壓,所屬技術領域中具有通常知識者可輕易選擇將「凹、凸、平」三種構造選擇變化設置於蓋體及密封件上。
因此,乙證1、7已揭露「凸對凹」、「平對凸」構造,所屬技術領域中具有通常知識者可輕易從上開構造得到系爭專利更正後請求項1「凸對凸」構造,而該「凸對凸」構造同樣用以下壓密封件,相較「凸對凹」、「平對凸」構造並未具無法預期之功效。
⑵因系爭專利更正後請求項1並未記載密封件、凹室結構特徵,而乙證7圖式第3、5圖已揭露密封環10底部的兩第二唇部18間之第二溝槽19,相當於系爭專利更正後請求項1之凹室。
故上訴人主張乙證7密封環10底部的兩第二唇部18為圓弧狀,會有受力不均的問題,要無可採。
9.上訴人主張乙證7第一唇部16的設計型態避免密合過程一開始就被下壓,並非為了第一時間就使第二唇部(18)之間空隙產生「充塞」,第一槽部17更會成為第一唇部16向兩側變形緩解壓力的空間,使第一唇部16變形是為了增加第一唇部16與第一密封面22的接觸面云云(本院卷一第203頁之民事爭點整理狀第21頁)。
惟系爭專利更正後請求項1並未記載凸壓部第一時間下壓凸緣部之技術特徵,縱使乙證7第二唇部18並非第一時間被下壓,但乙證7第二唇部18被下壓後,第二唇部18間之第二溝槽19仍已揭露系爭專利更正後請求項1「凹室23因為凸緣部22下壓而充塞於容置槽12中,原存在於凹室23之空氣無法宣洩,會形成空氣阻隔層,防止濕氣出入增加密閉性」之技術特徵,乙證7第二唇部是否第一時間被下壓並不影響其上述功能,故上訴人此部分主張並不可採。
⒑上訴人主張乙證1採用凹陷之接合槽以接引凸垣,利用此凹凸形狀之配合,且接合槽寬度大於凸垣之外、內側緣寬度來進行定位,呈現下圖所示之技術功效,實際上乙證1提供了反向教示;
乙證1明示其必須凹對凸的技術手段,才能解決其技術問題,雖未明確記載排除系爭專利之手段,但其實質隱含排除系爭專利的凸對凸的技術手段,致使所屬技術領域中具有通常知識者不會得到可以將乙證1及乙證7結合云云 (本院卷一第205頁之民事爭點整理狀第22頁、本院卷二第27頁之民事上訴理由(三)狀第6頁)。
惟證據1、7於技術領域具有關連性、功能及作用具有共通性、所欲解決問題上具有共通性,已如前述,且上訴人承認乙證1並未明確記載排除系爭專利「凸對凸」的技術手段,而如前所述,系爭專利「凸對凸」的技術手段可解決乙證1所欲解決之技術問題,故乙證1並未實質隱含排除系爭專利的「凸對凸」的技術手段。
因此,上訴人主張乙證1實際上提供了反向教示云云,自無可取。
⒒上訴人主張實施系爭專利之產品可達到IP68的防塵及防水,具有不可預期之功效及商業上的成功,可做為進步性的輔助判斷因子云云,並提出甲證21(其重複編為「原證19」)之測試報告為證 (本院卷一第221至223頁之民事爭點整理狀第30頁(十)、本院卷二第165至171頁之簡報)。
⑴進步性之判斷首重確定申請專利之發明範圍,進而確認申請專利之發明與相關先前技術之差異,且以該發明所屬技術領域中具有通常知識者參酌相關先前技術所揭露之內容及申請時的通常知識後,判斷是否能輕易完成申請專利之發明。
至於「商業上的成功」僅為進步性的輔助判斷因素,並非唯一因素,且專利產品在商業上成功與否,除其技術特徵外,尚可能因銷售技巧、廣告宣傳、市場供需情形、整體社會經濟景氣等因素相關聯(最高行政法院109年度上字第575號判決第12頁第25行至第13頁第1行參照)。
倘欲以商業上之成功克服不具進步性之判斷,申請人除應證明其實施專利商品之銷售量高於同質性之商品或在市場具有獨占或取代競爭者產品之情事外,尚應就實施專利商品之商業上成功係基於該專利之技術特徵所致之事實負舉證責任(最高行政法院107年度判字第652號判決六、㈤參照)。
⑵乙證1、7之組合足以證明系爭專利更正後請求項1不具進步性,則所謂「商業上的成功」之進步性輔助判斷因素即無再參考之必要。
況甲證21未清楚顯示密封件之形狀,無從確認其測試對象即為實施系爭專利之產品;
甲證21既未說明該測試之產品如何對應系爭專利之技術特徵,亦未說明何以該商業上的成功係由系爭專利之技術特徵所直接導致,而非因其他因素所造成,故上訴人此部分主張即非可採。
㈤綜上所述,乙證1、7之組合可證明系爭專利更正後請求項1不具進步性,而有應撤銷之原因,依智慧財產案件審理法第16條第2項規定,上訴人不得對被上訴人主張權利,是上訴人依專利法第120條準用第96條第1項前段、第2項、第97條第1項第2款、民法第185條第1項規定,請求如上訴聲明第2、3項,為無理由,不應准許。
從而,原審為上訴人敗訴之判決,並駁回其假執行之聲請,於法並無不合。
上訴意旨指摘原判決不當,求予廢棄改判,為無理由,應駁回上訴。
五、本件事證已臻明確,兩造其餘攻擊防禦方法及所提證據,經本院斟酌後,認均不足以影響本判決之結果,爰不逐一詳予論駁,併此敘明。
據上論結,本件上訴為無理由,依民事訴訟法第449條第1項、第78條,判決如主文。
中 華 民 國 111 年 9 月 8 日
智慧財產第一庭
審判長法 官 蔡惠如 法 官 曾啓謀
法 官 陳端宜
以上正本證明與原本無異。
如不服本判決,應於收受送達後20日內向本院提出上訴書狀,其未表明上訴理由者,應於提出上訴後20日內向本院補提理由書狀 (均須按他造當事人之人數附繕本) ,上訴時應提出委任律師或具有律師資格之人之委任狀;
委任有律師資格者,應另附具律師資格證書及釋明委任人與受任人有民事訴訟法第466條之1第1項但書或第2項(詳附註) 所定關係之釋明文書影本。
如委任律師提起上訴者,應一併繳納上訴審裁判費。
中 華 民 國 111 年 9 月 19 日
書記官 江虹儀
附註:
民事訴訟法第466條之1(第1項、第2項)
對於第二審判決上訴,上訴人應委任律師為訴訟代理人。
但上訴人或其法定代理人具有律師資格者,不在此限。
上訴人之配偶、三親等內之血親、二親等內之姻親,或上訴人為法人、中央或地方機關時,其所屬專任人員具有律師資格並經法院認為適當者,亦得為第三審訴訟代理人。
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