臺北高等行政法院行政-TPBA,96,訴,4009,20080529,2

臺北高等行政法院判決
96年度訴字第04009號

原 告 致茂電子股份有限公司
代 表 人 甲○○（董事長）
訴訟代理人 張慧明律師
被 告 經濟部智慧財產局
代 表 人 王美花（局長）
訴訟代理人 丁○○
丙○○
參 加 人 乙○○
訴訟代理人 吳梓生律師
上列當事人間因發明專利舉發事件，原告不服經濟部中華民國96年10月03日經訴字第09606075090 號訴願決定，提起行政訴訟，並經本院裁定命參加人獨立參加本件被告之訴訟。
本院判決如下：

主 文

原告之訴駁回。

訴訟費用由原告負擔。

事 實

一、事實概要：訴外人達司克科技股份有限公司於民國（以下同）91年03月22日以「IC測試處理機」向被告申請發明專利，經被告編為第00000000號審查，准予專利，並於公告期滿後，發給發明第190373號專利證書（專利權期間自92年11月21日至111 年03月21日止）。

嗣參加人於93年06月01日以其違反核准時（即90年10月24日修正公布）專利法第20條之1 規定，對之提起舉發。

案經被告審查，於96年04月30日以（96）智專三㈡02022 字第09620238340 號專利舉發審定書為「舉發成立，應撤銷專利權」之處分。

達司克科技股份有限公司不服，提起訴願，並經訴願決定駁回，嗣達司克科技股份有限公司將系爭專利讓與原告，原告遂向本院提起行政訴訟。

本院因認本件訴訟之結果，參加人之權利或法律上利益將受損害，乃依行政訴訟法第42條第1項規定，依職權裁定命參加人獨立參加本件被告之訴訟。

二、兩造聲明：㈠原告聲明：1.原處分及訴願決定均撤銷。

2.訴訟費用由被告負擔。

㈡被告聲明：1.駁回原告之訴。

2.訴訟費用由原告負擔。

三、兩造之主張：甲、原告主張：㈠本件係有關系爭專利核准時專利法第20條之1 「擬制新穎性」規定之適用問題，依被告公告之舊專利審查基準揭示：「判斷發明有無新穎性時，應以發明之技術內容比對是否相同為準。

不相同即具有新穎性；

相同即不具新穎性。」

此已為鈞院所肯認，雖然相同之情形包含能由熟習該項技術者直接推導之情形，惟其範圍極小。

依吾人經驗，鈞院各庭法官在判斷進步性時，固允許在不同構件間作適度之推導，惟在判斷新穎性時，則尚未見有允許當事人作任意推導，更遑論過度的推導。

㈡系爭案與引證案之構成及技術手段明顯不同：1.查原處分理由㈦稱：「系爭專利之IC輸送機構係可週旋於供料匣/ 升降器、測試埠與輸出匣等機構之間，負責各機構間之IC輸送轉運的工作，此與引證案申請專利範圍第1 、2 、6 、13至15項所述，安裝器或出料機之移動均為一IC取放於機構，該安裝器用以將進料機之IC移載至實體板上，而出料機則用以將實體板上之IC移出，該安裝器及出料機亦可視取放作業所需而整合為一取放機構，以週旋於進料機、具實體板之容器及出料機間，係屬熟習該項技術者所易於推導者。

」是以，引證案（即91年01月22日申請、92年11月01日審定公告之第00000000號「系統層級測試裝置」新型專利案）係由2 個不同的機構「安裝器」及「出料機」來負責待測試和完成測試之積體電路的運送；

其中「安裝器」係用以運送待測試的積體電路，而另一「出料機」則用以將測試完成的積體電路移到該測試實體板之外。

系爭專利係完全利用同一個「受測IC/ 完測IC之送料機構」來負責待測IC和完測IC的運送，故二者的構成及技術手段明顯不同。

2.然而被告竟自行增加「該安裝器及出料機亦可視取放作業所需而整合為一取放機構，以週旋於進料機、具實體板之容器及出料機間」，進而認為這是「係屬熟習該項技術者所易於推導者」。

惟綜觀其所列引證案申請專利範圍第1、2、6、13 至15項所述，從未見出現有「該安裝器及出料機亦可視取放作業所需而整合為一取放機構，以週旋於進料機、具實體板之容器及出料機間」之描述，因此其顯然是被告審查委員個人自行添加之描述。

如前所述，在判斷新穎性時可以推導的範圍是極其有限的「直接、無歧異且容易」的推導，在單一機構與單一機構間，能否推導都已受到限制。

原處分竟將二個機構推導出單一機構，其中更涉及又是「整合」，又是「週旋」之技術，實難想像這是一種「直接、無歧異且容易」的推導，故被告此種推導顯已逾越法律上及實務上判斷新穎性時所可忍受的推導界限，應屬一違法之推導。

㈢查原處分理由㈦謂「系爭專利之中央處理單元係可由排線匯整各機構之訊號，以協調各機構之動作，此與引證案具有一中央處理單元，以控制各機構間之運作之說明實質相同」，惟引證案之說明書內容並未見有任何一字提及「中央處理單元」，故被告所稱「引證案具有一中央處理單元，以控制各機構間之運作」，顯係不實之陳述。

惟訴願機關未予糾正，反而替被告作推導，於本件訴願決定謂：「雖然引證案說明書無直接提到『中央處理單元』，但以各該機構之協調操控，可由引證案說明書創作說明詳述之機器自動化，直接推導係以一綜合處理單元來遂行其構成及自動化目的而對積體電路作系統層級測試，...因此系爭案申請專利範圍第1項界定之IC輸送機構、供料匣/升降器、空匣/升降器及中央處理單元等，其與引證案之差異，為熟習該項技術者由引證案之自動化對積體電路作系統層級測試所能直接、且無歧異可得知者，實不具新穎性。」

訴願決定既已說明引證案說明書無直接提到「中央處理單元」，惟竟然能得出直接、且無歧異的推導結論，顯見其理由之荒謬。

㈣按「在前後案比對技術特徵之構件，而有差異時，雖然可以參酌所屬技術領域中具有通常知識者可否直接且無歧異之推導，然而必也引證案有提及但不夠清楚的情況下，方有推導之餘地，若引證案中完全未提及特定構件，即無推導出該特定構件之餘地可言」。

又鈞院94年度訴字第2445號判決揭示：「若先前技術揭露之技術特徵對系爭案差異部分之內容並未有何教示或指導，而須由熟習該項技術者以先前技術為基礎，經由邏輯分析、推理或試驗而可預期思及者，則已屬進步性判斷範圍，而非新穎性之判斷範圍。」

則以此檢視訴願決定所稱「可由引證案說明書創作說明詳述之機器自動化，直接推導係以一綜合處理單元來遂行其構成及自動化目的而對積體電路作系統層級測試」，顯然其已屬進步性判斷範圍，而非新穎性判斷可適用之推導原則。

再參照鈞院95年度訴字第04354 號案件（按該案系爭專利與本案實質上極為相同，該案引證案則為第548414公告號專利，主要爭點亦在於系爭專利有無違反核准時專利法第20條之1 有關擬制新穎性規定），於該案系爭專利所具備之其中一構件「待測IC/ 完測IC緩衝承座」在該案引證案中亦未見揭示，該案被告則以「該緩衝承座構件為習知技術，可以與引證案合併參酌而進行推導」，惟鈞院顯然不同意這樣的違法推導，並於該判決中指出：「專利之新穎性審查應採單獨比對原則，而所謂獨立的引證資料，應以引證文件中有明確記載記載之內容，或實質上隱含之內容，由該發明所屬技術領域中具有通常知識者參酌引證文件公開時的通常知識，能直接且無歧異得知者為限。

若某一引證文件中並未明確記載或實質隱含之內容，縱其為習知技術，亦不能謂由該發明所屬技術領域中具有通常知識者參酌引證文件能直接且無歧異推導得知。」

因而撤銷原處分及訴願決定，再再顯示鈞院對新穎性之判斷，均係謹守一定之嚴謹原則，不容許任意之推導。

㈤綜上論述，原處分及訴願決定未遵守判斷新穎性之基本原則，任意過度的推導，甚至出現在引證案中未出現但被告自行附加的一些不實陳述，其違法性甚為顯然。

謹請鈞院鑒核，撤銷原處分及訴願決定，以維權益。

乙、被告主張：㈠原告起訴理由略以，系爭專利係完全利用一個「受測IC/ 完測IC之送料機構」來負責待測IC和完測IC的運送，與引證案由2 個不同的機構「安裝器」及「出料機」來負責待測試和完成測試之積體電路的運送等構成及技術手段明顯不同；

引證案之專利說明書內容未見有任何一字提及「中央處理單元」，且系爭專利所具備之其中一構件「受測IC/ 完測IC緩衝承座」亦未見引證案揭示，不能據以謂系爭專利為該發明所屬技術領域中具有通常知識者參酌引證文件公開時的通常知識，能直接且無歧異得知。

㈡系爭案申請專利範圍第1項不具新穎性：1.查系爭案申請專利範圍第1項主要係應用全自動化作業之處理機，該處理機包含：一機台、一供料匣/ 升降器、一空匣/ 升降器、一輸出匣、至少一組的測試埠、一IC輸送機構及一中央處理單元；

使IC由供料匣/ 升降器上被輸送到至少一組的測試埠，並在埠內接受測試，之後再將該IC輸送到輸出匣上；

其特徵在於：上述測試埠內之測試機構採用該受測IC適用之公板者。

2.依被告專利審查基準對有關獨立項之要點載有，為使公眾更明確瞭解獨立項，並明確、簡潔區分申請專利之標的與先前技術共有之必要技術特徵及有別於先前技術之必要技術特徵，獨立項得以二段式（two-part form ）之形式撰寫，分為前言部分（應包含申請專利之標的及與先前技術共有之必要技術特徵）及特徵部分（應以如「其特徵在於」敘明有別於先前技術之必要技術特徵）。

故系爭案申請專利範圍第1項所界定之主要技術特徵標的係在於「其特徵在於」之後所敘述之「測試埠內之測試機構採用該受測IC適用之公板」，而此測試機構採用受測IC適用之公板即為引證案專利說明書中創作背景所揭露之供待測積體電路插接之測試實體板，該公板及實體板為相同之構成及作用，且其間之發明概念係屬同一，不具新穎性。

3.系爭案申請專利範圍第1項於「其特徵在於」之前所敘述之屬先前技術構成部分中之IC輸送機構、供料匣/ 升降器、空匣/ 升降器及中央處理單元等，亦可由引證案所揭之係以機器自動化（可直接推導係以中央處理單元來遂行其構成及自動化目的）對積體電路作系統層級測試，將積體電路插接於實體板以進行系統層級測試，並將已完成系統層級測試的積體電路從實體板拔出並分類輸出，用以取放IC之安裝器、供承裝待測試IC之料匣置放，用以供料之進料機、將進料機之空的料匣移送到出料機以補充料匣供承裝測試完之IC之容料器控制單元等直接推導而得，故系爭案申請專利範圍第1項已界定屬習知構成之IC輸送機構、供料匣/ 升降器、空匣/升降器及中央處理單元等，為熟習該項技術者由引證案之自動化對積體電路作系統層級測試所易於直接且無歧異得知者，實亦不具新穎性，其屬習知之構成部分亦為易於直接推導而得，故系爭案申請專利範圍第1項不具新穎性。

㈢至於系爭案申請專利範圍第1項之附屬項（即第2 至7 項）所載之可供各機構裝設於其上之機台、公板IC測試座之IC放置方向與供料匣/ 升降器內之IC放置方向相同的情況、公板IC測試座之IC放置方向與供料匣/ 升降器內之IC放置方向不同的情況、增設一預熱匣、公板IC測試座之IC放置方向與供料匣/ 升降器內之IC放置方向相同的情況、公板IC測試座之IC放置方向與供料匣/ 升降器內之IC放置方向不同的情況等，均屬先前技術構成之再加描述，為可由習知技術所易於直接推導而得，亦為引證案以實體板供放置待測IC，並以安裝器將IC押入及加溫，且利用二轉向器調整待測及完測IC之方向等所揭露，其屬習知之構成部分再加描述之第2 至7 項實為易於直接推導而得，故系爭案申請專利範圍第2 至7 項亦不具新穎性，系爭專利係違反核准時應適用之專利法第20條之1 規定，原告起訴理由所陳各節，俱無足採。

㈣綜上所述，被告原處分並無違法，敬請駁回原告之訴。

丙、參加人主張：㈠判斷發明有無新穎性時（以發明之技術內容比對引證文件中所公開之內容）應以引證文件中所公開之內容為準，除形式上明確記載的內容外，尚包含實質上隱含之內容（即能由熟習該項技術者直接推導）：1.按「申請專利之發明，與申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案所附說明書或圖示載明之內容相同者，不得取得發明專利。」

為系爭專利核准時專利法第20條之1 本文之規定，係有關「擬制喪失新穎性」之規定。

就此，原告於83年11月25日公告之專利審查基準第二章第三節二2.「新穎性判斷之基本原則」⑶規定：「判斷發明有無新穎性時，應以發明之技術內容比對是否相同（含能由熟習該項技術者直接推導）為準。

不相同即具有新穎性；

相同即不具新穎性。」

第二章第三節五「新穎性判斷用之引證資料類型及認定」⑶亦規定：「如參酌該先申請案申請當時之既有技術而可導出之事項，亦可作為『先申請並經核准專利之發明案或新型案所記載之技術』之認定基礎。」

而現行專利審查基準第二篇第三章2.2.2 「引證文件」規定：「審查新穎性時，應以引證文件中所公開之內容為準，包含形式上明確記載的內容及形式上雖然未記載但實質上隱含的內容，...實質上隱含的內容，指該發明所屬技術領域中具有通常知識者參酌引證文件公開時的通常知識，能直接且無歧異得知的內容。」

另2.4 「新穎性之判斷基準」規定「差異僅在於部分相對應的技術特徵，而該發明所屬技術領域中具有通常知識者基於先前技術形式上明確記載的技術內容，即能直接且無歧異得知其實質上單獨隱含或整體隱含申請專利之發明中相對應的技術特徵」，即不具新穎性。

2.由前揭專利審查基準之規定可知，於判斷系爭專利有無新穎性，以引證案比對技術內容是否相同時，由熟習該項技術者參酌申請當時之既有技術/ 通常知識而可直接推導出之事項，係屬引證案之技術內容，可作為系爭專利不具新穎性之基礎。

由原告所稱「訴願決定既已說明引證案說明書無直接提到『中央處理單元』，惟竟然能得出直接、且無歧異的推導結論，顯見其理由之荒謬... 。

在前後案比對技術特徵之構件，而有差異時，雖然可以參酌所屬技術領域中具有通常知識者可否直接且無歧異之推導，然而必也引證案有提及但不夠清楚的情況下，方有推導之餘地」可知，其係主張引證案「必須提及」中央處理單元，方可以之與系爭專利比對。

惟此顯然有悖於上開新穎性審查之基本原則，即引證文件中所公開之內容除形式上明確記載的內容外，尚包含實質上「隱含」之內容（即能由熟習該項技術者直接推導）。

是以，故原告指摘原處分及訴願決定之前提，即有錯誤。

㈡系爭案申請專利範圍第1項為獨立項，其各構件經與引證案比對而認定欠缺新穎性，第2項以下之各附屬項乃對獨立項再做說明及限定，則各附屬項中與獨立項中相同之構件與引證案相比對，結果自亦相同：1.查系爭案申請專利範圍第1項之撰寫方式為二段式（two-part form）之形式撰寫，分為前言部分（包含申請專利之標的及與先前技術共有之必要技術特徵）及特徵部分（「其特徵在於」敘明有別於先前技術之必要技術特徵）。

2.系爭專利界定之主要技術特徵標的係在於「測試埠內之測試機構採用該受測IC適用之公板」，惟原處分已論明，其測試機構採用受測IC適用之公板，即相當於引證案專利說明書中創作背景所揭露之供待測積體電路插置作實際環境測試之實體板，前者之公板及後者之實體板為相同之構成及作用，且其間之發明概念係屬同一，並無上下位概念之分，故系爭專利不具新穎性。

先予敘明。

3.查原告就原處分關於前述系爭案申請專利範圍第1項與引證案之比對說明，並無反對意見。

又原告所指摘原處分理由㈦關於「IC輸送機構」、「中央處理單元」之部分，乃原處分對於系爭案申請專利範圍第2項（附屬項）與引證案之比對說明。

惟查，系爭案申請專利範圍第2項係針對第1項（獨立項）之機台、供料匣/ 升降器、輸出匣及IC輸送機構等裝置再作說明及限定。

原處分對於第1項中之構件IC輸送機構及中央處理單元，均有比對至引證案之對應構造，並認定第1項不具新穎性；

原告就系爭案申請專範圍第1項之欠缺新穎性既未爭執，則其主張「第2項中與第1項相同之構件，與引證案比對有所差異而具新穎性」，顯有矛盾，亦乏所據。

4.尤須指明者，系爭專利之主要技術特徵既屬習知技術，則其第1項（獨立項）之構成為「先前技術＋習知技術」。

按「稱發明者，謂利用自然法則之技術思想之高度創作。」

為系爭案核准時專利法第19條之規定，亦即發明專利之要件為「高度」創作，則豈能容認系爭專利第1項獨立項之「先前技術＋習知技術」架構為有效之專利。

㈢原告指稱「系爭專利之中央處理單元非可由引證案直接推導」，非屬正確：1.就原告所爭執之系爭專利「中央處理單元」而言，其與引證案所具各機構間之運作及發出訊號，需經管控以達自動化運作者相較，雖然引證案說明書無直接提到「中央處理單元」，但以各該機構之協調操控，可由引證案說明書創作說明詳述之機器自動化，直接推導係以一綜合處理單元來遂行其構成及自動化目的而對積體電路作系統層級測試。

因此系爭案申請專利範圍第1項界定之中央處理單元等，其與引證案之差異，為熟習該項技術者由引證案之自動化對積體電路作系統層級測試所能直接、且無歧異可得知者，實不具新穎性。

2.引證案已揭露「該測試器27對已經插接有該待測積體電路的該測試實體板25提供一測試輸入信號，而從已經插接有該待測積體電路的該測試實體板25接收一測試輸出信號，並且根據該測試輸出信號發出一指示信號，以顯示該待測積體電路是否適用於該測試實體板（說明書第12頁參照）」，則熟習該項技術領域之人亦可由引證案揭露之技術說明，直接推導而得一可從測試器27讀取測試結果之中央處理單元，即系爭專利之中央處理單元。

3.就引證案中熟習該項技術領域之人可直接推導出系爭專利之中央處理單元乙事，引證案專利說明書第5、6頁創作說明目的欄，亦已充分說明其目的係為「提供一種以機器自動化為主的系統層級測試方案」，而欲達成機器自動化，取代習用的人工作業，除了所提出各構件外，一定要具備中央處理單元，以整合各構件進行自動化作業。

4.故由引證案可證，系爭專利之中央處理單元能由熟習該項技術者直接推導而得，殆無疑義。

㈣原告指稱「系爭專利之IC輸送機構，非熟習該項技術者可由引證案所易於推導」，非屬正確：1.按判斷系爭專利有無新穎性，以引證案比對技術內容是否相同時係以「熟習該項技術者」（即所屬技術領域中具有通常知識者）為標準；

換言之，是否能由引證案直接推導而得，係以熟習該項技術者之角度出發，而非一般通常知識之人。

2.系爭案申請專利範圍第2項係針對第1項（獨立項）之機台、供料匣/ 升降器、輸出匣及IC輸送機構等裝置再作說明及限定；

其中，「IC輸送機構」界定為「可週旋於供料匣/ 升降器、測試埠與輸出匣等機構之間，負責各機構間之IC輸送運轉的工作」。

3.引證案創作說明中明載：「該安裝器22包含一移動具（因為可以採用習知常見的機械手臂，故未示於圖2、3，但示於圖6 ），用以將該待測積體電路從該進料機12移到該測試實體板25上指定區26，俾該壓接機構23將待測積體電路插接於該測試實體板25上指定區26（引證案說明書第11頁第5 行至第10行參照）。」

「本案是一種積體電路執行系統層級測試的機器自動化作業裝置，可以更包含一出料機（圖3 的34），配合（或利用）該移動具或習用機械手臂，將該完成測試的積體電路移到該測試實體板25之外，並且根據測試結果，將該完成測試的積體電路放到不同位置（引證案說明書第14頁第4 行至第8 行參照）。」

是以，引證案亦明揭安裝器之移動具（或機械手臂）係可與進料機及出料機配合，將進料機內之待測積體電路從該進料機12移到該測試實體板25上指定區26進行測試，並將該完成測試的積體電路移到該測試實體板25之外，並且根據測試結果，將該完成測試的積體電路放到出料機之不同位置，因此安裝器之移動具（或機械手臂）係可獨立完成積體電路移入及移出測試實體板25之作業，而移動於進料機21、容器24之測試實體板25及出料機34間；

換言之，引證案安裝器之移動具（或機械手臂）本即足以完成IC之取放移動作業。

4.退步言之，系爭案申請專利範圍第2項之IC輸送機構縱非已完全由引證案之安裝器所揭露，熟習該項技術者亦可直接推導而得，因此原處分認為「引證案申請專利範圍第1 、2 、6 、13至15項所述，安裝器或出料機之移動均為一IC取放機構，該安裝器用以將進料機之IC移載至實體板上，而出料機則用以將實體板上之IC移出，該安裝器及出料機亦可視取放作業所需而整合為一取放機構，以周旋於進料機、具實體板之容器及出料機間，係屬熟習該項技術者所易於直接推導者」，洵屬有據，原告泛稱「此為被告審查委員個人自行添加之描述，遠遠的逾越判斷新穎性時所可忍受的推導界限」，顯乏所據。

㈤原告所引鈞院95年度訴字第04354 號判決，與本件情形不同，無從比附援用，且其論述恐有違誤：1.查鈞院95年度訴字第04354 號判決要旨在於「系爭專利說明書所載之習知技術」為「引證案」之外之資料，尚難與引證案組合，以與系爭專利進行比對，論究其新穎性；

亦即，該判決係認為「原審定係組合兩件不同資料而與系爭專利進行比對」。

惟本件原處分均係以引證案本身（創作說明及申請專利範圍）來與系爭專利進行比對，毫無任何組合之情形，故鈞院95年度訴字第04354 號判決在本件無從比附援用。

2.又鈞院95年度訴字第04354 號判決首先肯認並引用上開專利審查基準之規定（第18頁倒數第9 行開始），但卻於最後得出「若某一引證文件中並未明確記載或實質隱含之內容，縱其為習知技術，亦不能謂由該發明所屬技術領域中具有通常知識者參酌引證文件能直接且無歧異推導得知」之命題，係將結論「某一引證文件中並未明確記載或實質隱含之內容」作為前提，違反論理法則。

按引證文件是否實質隱含某內容，必須由該發明所屬技術領域中具有通常知識者「參酌引證文件公開時的通常知識」，能否直接且無歧異得知該內容而定，豈可先行認定某引證文件中並未實質隱含某內容，再推論縱該內容為習知技術? 亦不能謂由該發明所屬技術領域中具有通常知識者參酌引證文件能直接且無歧異推導得知! 其違論理法則，至為顯然。

3.查鈞院95年度訴字第04354 號判決判決將具有通常知識者所參酌之基礎限於「引證文件」本身，排除專利審查基準所明文規定之「先申請案申請當時之既有技術」、「後申請案之說明書、圖式及其申請時的通常知識」及「引證文件公開時的通常知識」，顯然違反專利法第20條之1 本文及前揭專利審查基準關於擬制喪失新穎性之規定。

就此，關於該判決所審理之專利有另一舉發案亦為鈞院審理，鈞院作成95年度訴字第03668 號判決即明揭：「前揭專利法第20條之1 兩發明是否相同則應就申請專利之發明，與申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案所附說明書或圖式載明之內容加以比對，且如有差異之技術內容，依該發明所屬技術領域中具有通常知識者基於先前技術形式上明確記載之技術內容，即能直接且無歧異得知其實質上單獨或整體隱含申請專利發明中相對應之技術內容者，仍不能謂二者之技術內容為不相同，已如前述。

因此，關於系爭案所載之習知技術內容自非不得作為引證案是否可直接且無歧異得知其實質上單獨或整體隱含申請專利發明中相對應之技術內容判斷上之參酌依據。」

4.綜上，鈞院95年度訴字第04354 號判決與本件情形不同，無從比附援引，且其論理恐有違誤，亦不應援用。

㈥綜上論述，系爭專利之「中央處理單元」及「IC輸送機構」已為引證案所充分揭露或熟習該項技術者可由引證案揭露之技術說明直接推導而得，原處分並未違反專利審查基準及專利法關於擬制喪失新穎性之規定。

爰請求判決駁回原告之訴。

理 由

一、按凡利用自然法則之技術思想之高度創作，而可供產業上利用者，固得依系爭專利核准時專利法第19條暨第20條第1項前段之規定申請取得發明專利。

惟如「申請專利之發明，與申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案所附說明書或圖式載明之內容相同者，不得取得發明專利。」

復為同法第20條之1 所明定。

二、本件係訴外人達司克科技股份有限公司前於91年03月22日以「IC測試處理機」向被告申請發明專利，經被告編為第00000000號審查，准予專利，嗣參加人於93年06月01日以其違反核准時專利法第20條之1 規定，對之提起舉發。

案經被告審審定為「舉發成立，應撤銷專利權」之處分。

達司克科技股份有限公司不服，提起訴願，並經訴願決定駁回，嗣達司克科技股份有限公司將系爭專利讓與原告，原告遂向本院提起行政訴訟，並為如事實欄所載之主張。

是本件應審究者厥為系爭專利有無違反核准時應適用之專利法第20條之1 規定？

三、本院判斷如下：㈠本件系爭第00000000號「IC測試處理機」發明專利案，依其專利說明書所載，申請專利範圍共7 項，第1項為獨立項，其餘為附屬項。

第1項係「一種IC測試處理機，主要係應用全自動化作業之處理機，該處理機包含：一機台、一供料匣/ 升降器、一空匣/ 升降器、一輸出匣、至少一組的測試埠、一IC輸送機構及一中央處理單元；

使IC由供料匣/ 升降器上被輸送到至少一組的測試埠，並在埠內接受測試，之後再將該IC輸送到輸出匣上；

其特徵在於：上述測試埠內之測試機構採用該受測IC適用之公板者。」

等語；

而參加人於93年06月01日所提舉發證據計有：附件一為系爭專利審定公告本及專利說明書；

附件二為91年01月22日申請、92年11月01日審定公告之第00000000號「系統層級測試裝置」新型專利案（以下稱引證案）。

另參加人於94年08月09日提出之第2 次舉發補充理由書檢送附件一為SYNAX SHINANO ELECTRONICSCO.,LTD.於西元1998年06月06日公開之有關型號「SX1701」IC處理機之說明書；

附件二為SYNAX SHINANO ELECTRONICSCO.,LTD.於西元2001年01月公開有關型號「SX1101」IC處理機之說明書；

附件三為SYNAX SHINANO ELECTRONICS CO.,LTD.有關型號「SX1101」IC處理機之型錄。

又參加人於95年08月03日提出之附件為88年08月11日公告之第00000000號「IC測試處理器」發明專利案之說明書。

㈡本件引證案依其創作摘要所述，係提供一種對積體電路作系統層級測試（SLT ）的裝置，其以機器自動化為主來取代習用的人工作業，將積體電路插接於實體板以進行系統層級測試，其也可以藉由機器自動化來取代習用的人工作業，將已完成系統層級測試的積體電路從實體板拔出並分類輸出等語；

而其申請專利範圍第1項係「一種系統層級測試裝置，用以測試一種積體電路插接於一種實體板上指定區時，是否適用於該種實體板，這種系統層級測試裝置包含：一容器，供容納至少一該種實體板為一測試實體板；

一進料機，其容納至少一該種積體電路為待測積體電路；

一安裝器，用以將該待測積體電路移出該進料機而插接於該測試實體板上指定區，該安裝器包含一壓接機構，用以將該待測積體電路插接到該測試實體板上指定區；

以及一測試器，對已經插接有該待測積體電路的該實體板進行測試，以分辨該待測積體電路是否適用於該種實體板，就此完成測試一該種積體電路。」

等語；

然查系爭案申請專利範圍第1項所載之先前技術構成部分，與引證案具對應之構造為：供料匣/ 升降器，即相當於引證案之進料機（供承裝待測試IC之料匣置放以進行供料）；

空匣/ 升降器，即相當於引證案之容料器控制單元（將進料機之空的料匣移送到出料機以供承裝測試完之IC）；

輸出匣，即相當於引證案之出料機（供承裝已測試完IC之料盤置放以進行出料）；

測試埠，即相當於引證案之容器（供IC於內部作測試）；

IC輸送機構，即相當於引證案之安裝器（用以取放IC）；

以及一中央處理單元，即引證案說明書內所述作訊號及各機構管控者。

至於系爭專利之特徵部分「測試埠內之測試機構採用該受測IC適用之公板者」，此測試機構採用受測IC適用之公板，即相當於引證案專利說明書中創作背景所揭露之供待測積體電路插置作實際環境測試之實體板。

是以，系爭專利係將IC由供料匣/ 升降器上被輸送至測試埠，並在埠內以公板作實際環境測試，而後再輸送至輸出匣上出料，此與引證案將IC由進料機上被輸送至容器，並在容器內以實體板作實際環境測試，而後再輸送至出料機出料等之技術相同；

從而，引證案足以證明系爭專利申請專利範圍第1項不具新穎性。

㈢系爭專利之機台為機械裝置之基本元件、供料匣/ 升降器於目前IC測試機為一公知之供料裝置，系爭專利與引證案於用以供料之盤匣空載時，均可移出作為出料用之輸出盤匣以供放置測試完之IC，故系爭專利及引證案之輸出匣或出料機均係提供測試完之IC作一分類擺置使用，且其以公板供放置待測IC，並以加押加熱頭將IC押入及加溫，且利用二旋轉緩衝臺調整待測及完測IC之方向，係同於引證案以實體板供放置待測IC，並以安裝器將IC押入及加溫，且利用二轉向器調整待測及完測IC之方向，系爭專利之IC輸送機構係可周旋於供料匣/ 升降器、測試埠與輸出匣等機構之間，負責各機構間之IC輸送轉運的工作，此與引證案申請專利範圍第1 、2 、6 、13至15項所述，安裝器或出料機之移動均為一IC取放機構，該安裝器用以將進料機之IC移載至實體板上，而出料機則用以將實體板上之IC移出，該安裝器及出料機亦可視取放作業所需而整合為一取放機構，以周旋於進料機、具實體板之容器及出料機間，係屬熟習該項技術者所易於直接推導者，系爭專利之中央處理單元係可由排線匯整各機構之訊號，以協調各機構之動作，此與引證案具有一中央處理單元，以控制各機構間之運作之說明實質相同；

是引證案亦足以證明系爭專利申請專利範圍第2項乃為熟習該項技術者所能直接推導者，不具新穎性。

系爭專利之檢測流程同於引證案第2圖之檢測流程，因此引證案足以證明系爭案申請專利範圍第3項乃為熟習該項技術者所能直接推導者，不具新穎性。

系爭專利以待測IC旋轉緩衝臺及完測IC旋轉緩衝臺來改變IC之放置方向，乃相同於引證案檢測流程之設有待測IC轉向器及完測IC轉向器來改變IC之放置方向，故引證案堪證系爭案申請專利範圍第4項乃為熟習該項技術者所能直接推導者，不具新穎性。

另系爭案申請專利範圍第5項係針對附屬項第2項之再作限定，其引據第2項並另增設一預熱匣，其位置係於各測試埠之待測IC旋轉緩衝臺位置附近者，此再限定部分揆諸引證案說明書第16頁所載「本案對一種積體電路執行系統層級測試的機器自動化作業裝置，又可以更包含一加熱器，在該待測積體電路被插接於該測試實體板上指定區之前，加熱該積體電路」等語，已有說明，故引證案足以證明系爭案申請專利範圍第5項增設一預熱匣於預設位置者，乃為熟習該項技術者所能直接推導者，不具新穎性。

而系爭案申請專利範圍第6項係針對附屬項第5項就公板IC測試座之IC放置方向與供料匣/ 升降器內之IC放置方向相同的情況作限定；

再者，系爭專利之申請專利範圍第7項係針對附屬項第5項就公板IC測試座之IC放置方向與供料匣/ 升降器內之IC放置方向不同的情況之限定；

揆諸上開比對說明，引證案已足證公板IC測試座之IC放置方向與供料匣/ 升降器內之IC放置方向相同的情況不具新穎性，故可得引證案堪證系爭案申請專利範圍第6項及第7項亦為熟習同項技術者所能直接推導者，不具新穎性。

從而，被告以系爭專利有違前揭專利法第20條之1 擬制新穎性之規定，乃為「舉發成立，應撤銷專利權」之處分，依法自無不合。

㈣至原告主張系爭專利之中央處理單元非可由引證案直接推導乙節：查引證案說明書雖無直接提到「中央處理單元」之構件，但揆諸引證案創作說明第12頁第1 行所載「本案對一種積體電路執行系統層級測試的作業裝置中，該測試器27對已經插接有該待測積體電路的該測試實體板25提供一測試輸入信號，而從已經插接有該待測積體電路的該測試實體板25接收一測試輸出信號，並且根據該測試輸出信號發出一指示信號，以顯示該待測積體電路是否適用於該測試實體板25」等語，可知機器自動化，直接推導係以一綜合處理單元來遂行其構成及自動化目的而對積體電路作系統層級測試，將積體電路插接於實體板以進行系統層級測試，並將已完成系統層級測試的積體電路從實體板拔出並分類輸出，用以取放IC之安裝器、供承裝待測試IC之料匣置放，用以供料之進料機、將進料機之空的料匣移送到出料機以補充料匣供承裝測試完之IC之容料器控制單元等直接推導而得；

是以，熟習該項技術領域之人亦可由引證案揭露之技術說明，直接推導而得一可從測試器27讀取測試結果之中央處理單元，即系爭專利之中央處理單元。

況引證案專利說明書第5 、6 頁創作說明目的欄，亦已充分說明其目的係為「提供一種以機器自動化為主的系統層級測試方案」，而欲達成機器自動化，取代習用的人工作業，除了所提出各構件外，一定要具備中央處理單元，以整合各構件進行自動化作業。

另至原告主張被告以引證案申請專利範圍第1 、2 、6 、13至15項所述與系爭案第1項為比對，有違「新穎性」應以一對一為比對之原則云云；

惟所謂新穎性一對一比對原則，乃指僅能用一個引證案為比對，而不得以結合二個以上引證案為比對；

然本件被告係以單一引證案內不同之獨立項及附屬項為結合比對，自無不合；

是原告上開主張，容有誤解，尚難可採。

四、綜上所述，原處分依法並無不合，訴願決定予以維持，亦無違誤；

原告徒執前詞，聲請撤銷原處分及訴願決定，為無理由，應予駁回。

五、本件事證已明，兩造其餘主張或答辯，已與本院判決結果無影響，爰毋庸一一論列，併此敘明。

據上論結，本件原告之訴為無理由，爰依行政訴訟法第98條第1項前段，判決如主文。

中 華 民 國 97 年 5 月 29 日
臺北高等行政法院第七庭
審判長法 官 李得灶
法 官 林育如
法 官 黃秋鴻
上為正本係照原本作成。
如不服本判決，應於送達後20日內，向本院提出上訴狀並表明上訴理由，如於本判決宣示後送達前提起上訴者，應於判決送達後20日內補提上訴理由書（須按他造人數附繕本）。
中 華 民 國 97 年 5 月 29 日
書記官 林苑珍